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深圳市大成精密设备股份有限公司

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光学干涉测厚仪

光学干涉测厚仪

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  • 更新时间：2025-04-29 10:26:57
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产品简介

设备参数： 　　1、测量范围：0

详情介绍

设备参数：


　　1、测量范围：0.1um～100um

2、测量精度：0.4%

3、测量重复性：±0.4nm

4、波长范围：380nm～1100 nm

5、响应时间：5～500ms

6、测量光斑：1mm～30mm

7、动态扫描测量重复性:10nm


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