晶振片故障现象、原因及解决办法
2025年03月06日 09:00:18
来源:郑州科探仪器设备有限公司 >> 进入该公司展台
阅读量:11
探头故障现象、原因及排除方法
1、沉积期间厚度读数大跳变
a. 不良晶片产生 解决方案:更换晶片
b. 晶片接近其使用寿命 解决方案:更换晶片
c. 晶片支承座表面有杂物 解决方案:用酒精或细砂皮清洗支承座
d. 来自溅射源的频率干涉 解决方案: 检查接地,仪器远离溅射源
2、沉积期间晶体停振,但晶片寿命未到
a. 晶片被来自镀膜源熔化材料小熔滴撞击 解决方案:镀膜起始阶段用档板遮蔽后移开
b. 不良晶片 解决方案: 更换晶片
c. 晶片支承座内腔表面有杂质 解决方案:清洗
3、晶体在真空中振荡,单暴露空气后停振
a.晶体接近使用寿命,暴露空气导致薄膜氧化而引起薄膜压力增加 解决方案: 更换晶片
b. 晶片积累了过多水分 解决方案:暴露空气之前关掉探头冷却水


版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:中非贸易网"的所有作品,版权均属于中非贸易网,转载请必须注明中非贸易网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。
4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。