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TP4056涓流转恒流及高温工作测试报告

2025年08月09日 08:31:25      来源:南京拓微集成电路有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:24

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测试日期:2008-4-8

芯片名称:TP4056

测试板:本公司TP4056演示板

测试环境:温度20℃

测试目的:检测芯片在涓流转恒流及极限热耗散情况下(高温工作)的可靠性

测试条件:

电源电压:7.0V

充电设置电流:1.2A

          充电电池起始充电电压:2.5V  

 

芯片编号

涓流转恒流功能

大电流充电电流

充电时间

是否合格

1号片

正常

320mA

30分钟

合格

2号片

正常

306mA

30分钟

合格

3号片

正常

310mA

30分钟

合格

4号片

正常

314mA

30分钟

合格

5号片

正常

317mA

30分钟

合格

6号片

正常

311mA

30分钟

合格

7号片

正常

325mA

30分钟

合格

8号片

正常

312mA

30分钟

合格

9号片

正常

309mA

30分钟

合格

10号片

正常

301mA

30分钟

合格

 

测试结果说明:TP4056经过涓流,恒流,恒压三个充电阶段, 芯片在2.9V左右进入恒流状态。

       恒流设置为1.2A,由于电源电压设置7V,芯片受热影响自适应而减小充电电流。(减小电源电压至5V左右则可得到大充电电流)

       可计算芯片上实际功率为芯片通过的电流×芯片电源端与电池端的压差约为3V即300mA×3V=0.9W 。约为此封装的热耗散功率。

 测试项目:设置1A完整充电情况

测试条件:电源电压5V. 电池容量2400mA  

电池电压

充电电流

电池电压

充电电流

电池电压

充电电流

电池电压

充电电流

2.0V

120mA

3.2V

915 mA

3.9V

1024 mA

4.125V

573 mA

2.2V

120 mA

3.5V

973 mA

4.0V

1000 mA

4.15V

410 mA

2.5V

120 mA

3.6V

978 mA

4.05V

940 mA

4.17V

245 mA

2.7V

120 mA

3.7V

1053 mA

4.075V

910 mA

4.18V

165 mA

2.9V

924 mA

3.8V

1078 mA

4.1V

725 mA

4.185V

117 mA

 测试结果说明:完整的充电电流控制。涓流、恒流、恒压各段充电电流正常。可以输出超过1A的大电流。

测试项目:1.2A恒流2小时测试

测试条件:电源电压5V。

测试结果:

编号

恒流电流 

时间

可靠性

1号片

1.205A

2小时

合格

2号片

1.211A

2小时

合格

3号片

1.206A

2小时

合格

4号片

1.208A

2小时

合格

 如客户在测试中芯片充电电流过小,请注意以下几点:

一, 大电流测试中电池电压不应超过4.05V,当电池电压高于4.05V左右后,电流将逐渐减小,进入恒压充电阶段。

二, 在测试中,若需要监测充电电流,请将电流表串联在电源端。不可串联在电池端。电流表内阻对测试有干扰。

三, 我司测试中电源电压为5.028V,即电路板红线连接至电源的电压。若电源电压为5.2V以上,则由于芯片功率耗散的影响而减小充电电流。

请注意监测电源的实际电压。

  

测试结论:涓流恒流转换功能正常,芯片在极限热耗散的高温情况下工作正常。芯片热限制自适应减小电流功能正常。大电流持续工作可靠性良好。

     在充电过程中,设置大电流充电。电源在5V-8V范围开关上电可靠性良好。

     

     如客户发现芯片在某种状态下出现不稳定,坏片等情况请告知我司。


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