在日常涂层测厚仪测厚过程中，有很多外在因素影响实际测量结果，导致最终测量结果存在误差，本文从以下几点可能对涂层测厚仪测量结果产生影响的因素进行分析：

1）磁性金属基体：磁性基体磁性变化会在一定程度上影响测量 ，因此在测量时 ，当使用测性测厚法进行测量时 ，应该注意使得标准片的金属磁性和表面粗糙度需要和试件类似 ；同样的使用涡流测厚法来进行测量时 ，需要注意保证标准片的金属电性质与试件类似 ；

2）基体金属的厚度：需要特别说明的是每种仪器在测量的时候都有着一定的临界厚度 ，一旦超过这个临界值则测量结果就不再受基体金属厚度的影响 ；

3）边缘效应：测量时 ，由于试件的表面粗糙度、表面形状等均会对最终测量结果产生影响 ，尤其是在靠近试件的边缘部分由于测量仪器十分敏感 ，所以试件边缘部分测得数据一般不可靠 ；

4）曲率：同样的 ，试件的固有属性尤其是曲率的大会对测量结果产生影响 ，而且随着曲率半径的降低 ，这种影响越大 ，所以弯曲度较大的试件测量结果亦不可靠。此外 ，对于容易变形的试件 ，测量结果也不可靠 ；

5）磁场的影响：如果测量期间 ，尤其是利用磁感应原理进行的涂层测量会由周围的电气设备所产生的强的磁场环境严重干扰测量结果 ，所以涂层测厚仪工作过程中需要避免周围的强磁场环境 ；

6）表面附着物质：由于涂层测厚仪对于某些覆盖在试件表面的附着物十分敏感 ，附着物会在很大程度上影响测量稳定性和测量精度。所以使用时也需要注意保证试件表面的清洁等 ；

7）测头压力：测头在试件上所施加的压力大小会影响测量的读数 ，在测量时应保证侧头平稳放置于试件上 ，无外在其他力作用并且保持稳定状态 ；

8）测头取向：涂层测厚仪的测头的放置位置对测量有影响，一般的 ，在测量中应使测头与试样表面保持垂直。

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