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平面光栅的加工中心反向尖角分析

2025年09月20日 08:57:50      来源:东莞市宇匠数控设备有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:11

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引言
机械加工精度取决于数控机床的精度,决定加工精度的主要因素是数控机床基本部件的精度及其运动精度,测量数控机床运动精度是数控机床误差预防和补偿的关键一环。数控机床运动精度与轨迹半径,进给速度有密切关系。在数控机床上用圆轨迹法测量出这种关系,对提高加工精度有一定的参考意义。
1    圆轨迹测量方法
数控机床的精度一般用圆轨迹法测量[1],圆轨迹测量方法有标准圆盘法,球杆仪法,激光球杆仪法,双环丝线仪和平面光栅测量法五种。
平面光栅法[2]是我国高精度数控机床运动误差常用的方法,主要优点:(1)可以测量多个平面的运动;(2)非接触测量;(3)进给速度 F 达 80m/min;(4)测量范围较大;(5)测量精度高;(6)测量结果不受环境因素影响。相比较而言,平面光栅法适合测量高精度数控类机床精度,测量精度高。
2    反向尖角产生的原理

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结论
       综上所述,在加工中心机床阻尼合适,机床调试正常, 运行状态良好时,圆轨迹半径 R 不变,进给速度 F 变大,反向尖角变大,误差变大;进给速度不变, 半径 R 变大,反向尖角变大,误差变大。


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