分析。

采用高分辨率的FAST SDD探测器，高达140ev分辨率，能准确地解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，优势巨大。高功率大高压单元搭配大功率X光管，能很好的保障信号输出与激发的稳定性，同时，故障率也大的降低。高精度自动化的X轴，Y轴以及Z轴的三维联动，更准确快速地完成对微小异型（如弧形、拱形、螺纹、球面等）测试点的定位。

设计亮点

上照式设计，可适应更多异型微小样品的测试。

新颖的光路，更短的光程，相较传统光路，信号采集效率提 升2倍以上。

可变焦高精摄像头，搭配距离补正系统，不仅可适应微小产品，同时也兼顾了台阶，深槽，沉孔样品的测试需求。

可编程多点测试，能自动完成对多个样品多个点的测试，大大提高测样效率。

自带数据校对系统，让您永远不再为数据突然变化而担心。

软件界面

人性化的软件界面，让操作变得更加便捷。 曲线的中文备注，让您的操作更易上手。仪器硬件功能的实时监控，让您的使用更加放心。



检测实例

原创作者：江苏天瑞仪器股份有限公司