**工业射线曝光主要是利用X射线穿透物体并在探测器上形成图像的原理**。
具体来说，工业射线曝光的过程涉及以下几个关键步骤：
1. **X射线的产生**：X射线由射线源产生，这些射线具有连续的频谱，也称为白色X射线或连续谱。
2. **与物质相互作用**：当X射线照射到待测试件上时，射线光子与试件物质的原子发生相互作用。这些相互作用包括光电效应、康普顿效应和相干散射等，导致部分X射线光子被吸收或散射，即X射线在穿过物质时被衰减。
3. **衰减过程**：X射线的衰减过程与射线能量、物质密度和原子系数相关。对于单能量的X射线束照射到密度和原子序数均匀的材料，衰减可以用公式I = I_0e^(-μL)表示，其中I是透射场强，I_0是入射场强，μ是衰减系数，L是材料厚度。
4. **图像形成**：透射过的X射线作用于探测器上，探测器将接收到的射线强度转换为图像信号，然后通过数据采集系统和计算机系统处理，终输出为图像。
总的来说，工业射线曝光技术是种非破坏性的检测方法，广泛应用于材料科学、无损检测和医学诊断等域。通过分析X射线穿透物体后的衰减情况，可以得到物体内部的结构和组成信息。
