X射线吸收谱仪（XAS）是一种的材料分析技术，其原理基于X射线与物质中特定元素的相互作用。当X射线穿过样品时，特定能量的射线会被样品中的原子吸收，引发电子跃迁，从而发射出特定波长的X射线。这些X射线携带着关于样品原子结构和电子状态的重要信息。通过精细调控X射线能量，激发样品中特定元素的电子跃迁，并测量这些X射线的能量和强度，科学家能够获取元素价态、配位环境、化学键类型以及局部电子结构等关键信息。
近年来，X射线吸收谱仪技术取得了显著进展。一方面，设备的能量分辨率和灵敏度不断提高，使得能够更精确地测定材料的局域结构信息。例如，上海应用物理研究所研发的SuperXAFS系列谱仪，凭借高质量的X射线，能量分辨率以及超精密的联动扫描系统，为用户提供了媲美同步辐射XAFS的实验数据。另一方面，台式X射线吸收谱仪的出现，突破了传统同步辐射光源的限制，可在常规实验室环境中实现X射线吸收精细结构测量，为科研人员带来了极大的便利。
在应用方面，X射线吸收谱仪广泛应用于材料科学、化学、生物学和医学等领域。在材料科学中，它用于研究材料的晶体结构、电子态以及元素分布，为材料设计和优化提供有力支持。在化学领域，XAS技术可以揭示化学反应机理，帮助科学家理解反应过程中的原子和电子结构变化。在生物学和医学中，XAS技术为研究生物大分子的空间构象以及疾病诊断和治疗提供新途径。
