常规晶振起振时间(Start Up Time)在10ms（毫秒）内，TCXO温补晶振为2ms。

以8MHz无源晶振为例，晶振各项参数经晶振单体在检测设备250B验证合格，如主要参数：频率精度、负载电容、等效电阻、静态电容、DLD2、SPDB、TS等，在常温测试中晶振各项参数同样正常。

但是，电子产品开机启动不良现象重现，具体表现为在开机系统诊断中，无法及时捕捉到晶振输出的时钟信号，导致系统自动抓取芯片内部时钟，造成系统紊乱。

分析原因为晶振启振慢所导致。那么到底是什么原因导致的呢？经分析为电路板设计不合理，晶振位置紧靠电源，同时距离芯片较远，这造成晶振极易受到干扰,如启动时间及频率额精度等。

基于该批次电路板中晶振位置已无法变更，随进行了8MHz有源晶振代替8MHz无源晶振方案的尝试。有源晶振的优势是连接电源便可稳定输出系统所需时钟信号，避免了无源晶振受各种杂散讯号干扰。

(有源晶振电路图)

经验证，电子产品开机系统紊乱问题不再重现。后经高低温测试及老化测试后，电子产品后台顺利完成开机诊断任务并进入正常操作界面，不良现象不再重现。