判定IC不良导致晶振不起振的最直接的方法就是做交换实验,建议如下：

首先，取下怀疑“不起振晶振”，换到OK电路板，上电测试IC是否正常捕捉到晶振正常频率信号。若IC已正常工作，说明晶振OK。进一步，把OK电路板晶振取下，焊接到NG电路板上电测试，若IC不工作，则可以反证IC不良。

补充说明，若尝试给NG板上电后，使用示波器或频率计数器针对晶振进行测试，会出现两种情况：

1、 晶振处于正常工作状态，说明IC不良。

2、 测试不到晶振频率，会得出两个结果：A.说明IC不良，可推断为IC没有给晶振提供激励功率或足够激励功率；B. 晶振本身不良，如频偏超差或本身品质不良等。

• 进一步验证晶振OK的方法是针对该晶振的各项主要参数进行检测，如负载电容、阻抗、调整频差，DLD2等，建议使用检测设备为350D测试系统。
• 进一步验证IC不良的方法是返回怀疑不良IC至供应商，经由专业设备测试得出数据。