广告招募

当前位置:中非贸易网 > 技术中心 > 所有分类

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

2026年01月05日 08:22:09      来源:深圳市晶诺威科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:0

分享:

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片制程不良

1、晶片不良区域

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图
2、晶片不良区域经更大倍数放大后,显示边缘残缺。

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

分析及结论:

石英晶片是石英晶振的核心部件,当晶振(包括石英晶片)制程发生不良,如出现晶片残缺、晶片平滑度不达标、镀银前晶片洁净度不达标、镀银工艺不达标、镀银后晶振内部洁净度不达标(其中包括微尘颗粒数及水分子含量)等,均可造成晶振在高低温工作状态下,发生电阻不稳定,如电阻突然跳变(主要是晶振电阻增大至晶振停振或不起振),进而造成系统紊乱,设备死机等不良现象。

晶诺威科技生产制造严格执行全程在超净化高标准环境下进行并完成,并已分别通过ISO9001、ISO14001、TS16949等相关体系认证,所生产的晶振产品品质严格符合国际IEC和美国ANSI标准。

引发晶振电阻跳变原因之一:晶片不良放大图

(晶诺威科技无尘车间图)

版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:中非贸易网"的所有作品,版权均属于中非贸易网,转载请必须注明中非贸易网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。