晶振不起振导致系统不工作案例分析如下：

涉及晶振类型:

无源晶振

不良现象：

系统偶发性停止，且不良现象具有重现性。

初步分析：

晶振外接电容与负载电容不匹配，导致晶振不起振，从而引发系统不工作。

测试及分析过程：

首先万用表测量AD输出引脚（串行输出，连接MCU），AD输出端没有转换完成信号（一个下降沿）出现。这个时候，如果人为将AD输出端拉低，系统工作正常。所以，MCU端应该没有出现异常。

当将示波器探头放到XTAL1上时，系统恢复正常工作。如果将探头拿下，则系统不再工作。由此断定，系统工作异常的原因，出现在晶振起振上，因为是探头改变了晶振的负载电容。

晶振外接电容调整方式：

1、先将晶振外接电容调大一些，发现晶振依然无法起振，系统不工作。

2、将晶振外接电容调小一些，晶振正常起振，系统恢复正常工作。

以上测试可借助频率计获取晶振实际输出频率，完成更精确的电容匹配调整动作目的，即，使晶振输出频率尽可能靠近频率中心点。打个比方，就是让你的高速行驶的车尽量靠近路的中心线行驶，而不是太偏左或太偏右，相信这个道理您懂得！

结论：

该不良现象为晶振在电路应用中负载电容不匹配所导致，也是无源晶振应用做常见问题。为了避免此问题发生，在样机及小批量阶段，请做好晶振外接电容与负载电容匹配，以防止后续产品在批量生产中发生品质不可控之隐患。

建议：

1、 晶振选择正规生产厂家，确保晶振品质，把隐患切断于开始。
2、 在无源晶振使用时，请确保晶振外接电容与负载电容已处于匹配状态，而非处于边缘值工作。
3、 针对电磁敏感电路，请对晶振进行有效屏蔽保护及接地处理。