X荧光硫含量测定仪采用“紫外荧光法”测定原理。当样品被引入高温裂解炉后，经氧化裂解，其中的硫定量地转化为二氧化硫，反应气经干燥脱水后进入荧光室。在荧光室中，部分二氧化硫受紫外光照后转化为激发态的二氧化硫(SO2*)，当SO2*跃迁到基态时发射出光子，光电子信号由光电倍增管接收放大。再经放大器放大，计算机数据处理，即可以转换为光强度成正比的电信号。在一定条件下反应中产生的荧光强度SO2*与二氧化硫的生成量成正比，二氧化硫的量又与样品中的总硫含量成正比，故可以通过测定荧光强度来测定样品中的总硫含量。分析样品前，需要先用标样校正曲线，在相同条件下再分析样品，程序自动依据标样校正曲线计算出样品的硫含量。
荧光硫分析仪都有其特定的能级结构，其核外电子都以各自*的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，成为自由电子，我们说原子被激发了，其他的外层电子便会这一空位，也就是所谓跃迁，同时以发出X射线的形式放出能量。由于每一种元素的原子能级结构都是特定的，它被激发后跃迁时放出的X射线的能量也是特定的。荧光硫分析仪以微电流放大、计算机数据处理，即可转换为与光强度成正比的电信号。此化学发光的强度与NO成正比，而NO的生成量又与样品中的总氮含量成正比，故可以通过测定化学发光的强度来测定样品中的的总含量。
X荧光硫含量测定仪采用紫外荧光法测定总硫含量，提高了抗杂质干扰的能力，避免了电量法对滴定池的繁锁操作和因此带来的不稳定因素，使得仪器的灵敏度大为提高。系统关键部件采用器件，使得整机性能有了可靠的保证。
X荧光硫含量测定仪广泛应用于检测液体、固体或气体样品中的硫含量。与国内外同类仪器相比，具有性能稳定可靠，分析精度高，重复性好等特点。高精度的数采卡和计算机技术的应用为数据的采集、控制、处理提供了可靠的保证。
