电子产品冷热冲击试验箱温度变化类试验项目有众多名称：温度变化、温度循环、温度交变、快速温变、温度冲击、冷热冲击、温度梯度、分级温度等名称。且不同体系的标准中应用的试验方法是不同的，如何区分这些试验项目，如何选择试验项目，这需要对各类型试验的来源以及其区别进行分析。
本文针对的试验项目是温度变化类的，对于湿热类，温湿度循环等试验项目后续再以专题叙述。
电子产品冷热冲击试验箱来源：各类标准中的温度变化试验均来源于IEC60068-2-14试验方法N：温度变化中的Nb。在特定温度变率之温度变化试验。
电子产品冷热冲击试验箱定义：
   电子产品冷热冲击试验箱为设置一定的温度变化速率进行高温与低温之间的转变。故在实际应用中有两类：一类为慢速的温度变化试验，其温度变化速率<3℃/min(一般各标准经常选择参数为1℃/min)，也既一般应用中的温度变化、温度循环、温度交变试验(此三类为一种试验)；另一类为快速的温度变化试验，其温度变化速率≥3℃/min(一般各标准经常选择参数为3℃/min、4℃/min、5℃/min、7℃/min、10℃/min)，也既一般应用中的快速温变试验。温度变化速率越快，考核越严酷。
电子产品冷热冲击试验箱目的及应用范围：
   电子产品冷热冲击试验箱适用于组件、装备或其它产品。为产品模拟带电工作时随温度的变化，如在系统/组件工作时快速改变周围温度。如果系统/组件处在热浸透温度(例如安装在发动机上的系统/组件)，高温阶段附加的短暂温度峰值要确保产品在这期间的基本功能。为避免系统/组件内的电热扩散抑制系统/组件达到低温的效果，故在降温阶段将产品关闭。失效模式为温度变化引起的电气故障。
注：电子产品冷热冲击试验箱不是寿命试验。
电子产品冷热冲击试验箱温度变化试验：
   电子产品冷热冲击试验箱各类标准中建议采用ISO16750-45.3.1温度变化试验，具体试验程序应用于非发动机舱产品，应用于发动机舱中零部件，因为其具有发动机熄火后的余热考核，故在温度变化中加入了极限高温贮存的考核。
   电子产品冷热冲击试验箱工程师在制定标准，执行标准时对于温度变化类的试验有很多不同的见解，且此类试验名称过多，导致实际应用中出现了一些不恰当的使用方法。本文特对温度变化类试验进行解读，一方面对各类试验项目进行分析，另一方面推荐使用合适的标准项目，以供各工程师参考使用。