耗散型石英晶体微天平是石英晶体微天平的扩展型，是一种用于测量真空或气相中表面质量变化的技术。可以实时测量芯片表面上吸附或损失的质量，因此非常适合测量诸如电子半导体器件或光学薄膜等薄膜沉积过程中膜的形成速率以及厚度。
简化流动模块设计，使得芯片安装，仪器操作更为简便。更加直观简便的软件操作，省略了一些复杂繁琐的软件设置步骤，使得初学者容易上手。实验数据简明扼要，分析结果一目了然，简化了倍频分析，更加突出耗散型石英晶体微天平定性分析的重要功能。
耗散型石英晶体微天平的产品优势：
●全自动的启钥系统
集成化的样品处理方式以及直观的软件操控使得仪器操作变得易于上手。预先编辑的实验程序使得仪器运行再也不需要人为监管。
●低至50μL的样品量
够进行的样品处理，从而使样品得到有效利用。
●便捷
八通道传感器模块可以提前设置好八个同步实验，可减少动手时间，提高了实验效率。
●灵活的流量控制和*的实验重现性
独立工作的高精度注射泵保证了四个通道高度的独立流量控制。可编程控制样品混合如自动样品浓度梯度保证了实验*的重现性。
●内置的温度控制
试验温度可由软件控制在4到70℃之间。可根据实验需要配置预加热或预降温的样品架。
