广告招募

当前位置:中非贸易网 > 技术中心 > 所有分类

影响介质损耗测试值的因数有哪些

2026年08月17日 16:18:23      来源:上海来扬电气科技有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

分享:

影响介质损耗测试值的因数有哪些

  下面新闻由专业生产油微水测试仪、油酸值测试仪、油凝点测试仪、油耐压测试仪、高压试验变压器直流电阻测试仪 ZGF2000-直流高发生器 介质损耗测试仪的厂家上海来扬电气实习记者小苗推荐:

  被试品的表面泄露对绝缘电阻影响很大,对tgδ的测量也同样如此,影响的程度与被试品的电容量有关。电容量较小的试品,当表面脏污受潮后表面泄露增加,回带来严重的影响,有可能引起误判断。因此,对小电容量的试品,必须注意消除表面泄露的影响;而对大电容量的试品,影响较小。测量中,应除去表面脏污,如遇空气湿度大时,应对表面采取必要的措施,但不宜加屏蔽环,否则将使电场分布改变,会得出错误的测量结果。

tgδ的综合(整体)值与个别值的关系

  一般电气设备的结构是多个部件组成的。各部件的绝缘又是由不同绝缘材料构成的。因此,在对电气设备试验结果分析时,可如实地把设备的绝缘部件看成是由多个介质的等值电路串联、并联、及串并联组成的电路。这样我们所测得设备的tgδ值,实际上是各部件的等值电路组合后的综合值。经计算可得出:并联后的综合tgδ必然大于其中小的,而小于其中大的,一般可认为,综合tgδ主要代表并联各元部件中电容量大者的介质损耗值;串联后的综合tgδ值介于元件中的大与小两个介质损耗角正切值之间,各元件的值相差不大时,他们都将接近于综合值,相差较大时,综合值主要反映串联元件中电容量小者的介质损耗角正切值;串并联介质电路的综合tgδ值在两个元件的值之间。

版权与免责声明:
1.凡本网注明"来源:中非贸易网"的所有作品,版权均属于中非贸易网,转载请必须注明中非贸易网。违反者本网将追究相关法律责任。
2.企业发布的公司新闻、技术文章、资料下载等内容,如涉及侵权、违规遭投诉的,一律由发布企业自行承担责任,本网有权删除内容并追溯责任。
3.本网转载并注明自其它来源的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容的真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品来源,并自负版权等法律责任。 4.如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系。