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泰勒白光干涉仪CCIMP信息

2026年10月10日 10:32:06      来源:笃挚仪器(上海)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:3

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泰勒白光干涉测量系统集高精度、高稳定性和智能化于一体,专为工业与科研领域的精密表面形貌测量而设计。系统采用的干涉技术,配备闭环无压电Z轴扫描仪,提供2.2 mm垂直测量范围,并通过标配的AutoStitch功能实现高达100 mm的Z向拼接,适用于大台阶或复杂结构的高分辨率三维重建。1024×1024像素阵列支持大视场下保持空间分辨率,确保细节清晰呈现。

系统搭载新型Claritas 20光调节技术,显著提升角度灵敏度和数据质量,实现<0.2 Å的RMS可重复性与<0.1%的步高重复性,全量程内分辨率达0.1 Å。有限元优化的机械结构保障了出色的R&R性能,无压电设计更降低了长期使用中的维护成本。自动表面检测功能有效防止物镜碰撞,延长设备寿命。


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