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菲希尔X射线镀层测厚仪X-RAY XDL-210信息

2026年10月10日 12:38:58      来源:笃挚仪器(上海)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

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FISCHERSCOPE X-RAY XDL-210 菲希尔X射线镀层测厚仪是一款专为高精度、非破坏性镀层厚度测量和材料成分分析而设计的台式仪器,其典型应用领域和设计理念如下:

一、典型应用领域

大规模生产的电镀部件测量

适用于汽车、五金、卫浴等行业中大批量电镀零件的质量控制,如锌、镍、铬等多层镀层的厚度检测。

薄镀层的精确测量

特别适合测量装饰性镀层(如装饰铬、金、银等),即使镀层厚度仅为几纳米也能实现高精度测量。

电子与半导体工业中的功能性镀层分析

可用于测量PCB(印刷线路板)上的铜、锡、金、钯等关键功能性镀层,确保电气性能和可靠性。

全自动测量任务

配合马达驱动的X-Y平台和,可实现对印刷线路板等复杂样品的自动多点测量,提升效率与重复性。

电镀溶液成分分析(间接应用)

虽然XDL-210主要用于固体样品,但通过测量标准样品或沉积层,可间接评估电镀液中金属离子浓度的变化趋势,辅助工艺控制。


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