泰勒霍普森粗糙度仪DUO操作信息

产品概述

Surtronic® Duo II 是泰勒霍普森公司推出的高性能便携式表面粗糙度测量仪，采用创新的分体式设计，支持一键快速测量多种国际标准粗糙度参数。广泛应用于制造业、重工业、航空航天、汽车、建筑等多个领域的质量控制与检测场景。

核心特点

1. 创新分体式结构

• 双单元设计：由显示控制单元与驱动单元组成，通过滑轨和锁定装置连接

• 灵活分离使用：两单元可无线分离（距离 1 米），便于测量深孔、管道内壁等难以触及区域

• 蓝牙 5.1 无线通信：摆脱线缆束缚，提升操作自由度与现场适应性

2. 高精度多参数测量

• 支持参数：Ra（轮廓算术平均偏差）、Rz（微观不平度十点高度）、Rp（峰高）、Rv（谷深）、Rt（轮廓高度）等

• 测量范围：

• Ra：0 ~ 40 μm

• Rz/Rp/Rv/Rt：0 ~ 199 μm

• 分辨率：0.01 μm

• 精度：±(5% 读数 + 0.1 μm)，确保结果可靠

3. 传感与驱动技术

• 金刚石测针：测头半径 5 μm，耐磨、高灵敏度

• 压电传感器 + 精密电机：以 2 mm/s 恒速移动，测量行程达 5 mm

• 2.4 英寸彩色 LCD 屏：实时显示数值与表面轮廓图，直观清晰

4. 优异的便携性与续航

• 轻巧设计：整机约 200g，符合人体工学，支持手持或腰挂

• 长续航电池：内置 2000mAh 锂聚合物电池，单次充电可完成 2000+ 次测量 或连续工作 4 小时

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