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菲希尔 X射线测厚仪 XULM240 信息

2026年10月10日 16:01:30      来源:笃挚仪器(上海)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

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菲希尔X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XULM240核心技术与硬件配置

X 射线源:50 kV/50 W 钨靶微聚焦 X 射线管(铍窗口),焦点≤50 μm;高压三档可调(30/40/50 kV);4 个电动切换准直器(最小 0.05×0.05 mm,标配含 Ø0.1 mm、Ø0.2 mm 等),3 个自动切换基本滤片;比例计数管探测器,兼顾高计数率与快速测量。

定位与观察:内置 500 万像素彩色视频显微镜,38×–184× 光学变焦,实时显示测量点;手动 XY 工作台(行程 30×40 mm),定位精度 ±0.005 mm;测量方向为从下往上,C 型开槽样品舱可容纳高度 174 mm 的样品。

软件与标准:搭载 WinFTM® 软件(标配 LIGHT 版,可选 BASIC/PDM/SUPER),支持 100 组程序预设、数据统计、报告生成与导出;符合 DIN ISO 3497、ASTM B568 及德国 RoV 射线安全法规。

关键性能指标

最小测量点:约 0.09×0.09 mm(≈Ø0.1 mm)

精度:Au > 0.1 μm 时,标样校准误差<±5%;无标样<±10%;80 nm 金镀层重复精度达 2.5 nm,COV(变异系数)<5%

测量距离:0–27.5 mm 可调,支持 DCM 距离补偿

元素范围:Cl(17)~ U(92),可同时分析最多 5 种元素,支持单 / 双 / 三镀层、合金镀层厚度测量,以及 4 元合金成分分析

样品参数:高度 174 mm,XY 工作台承重 2 kg;整机尺寸 403×588×444 mm,约 45 kg


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