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菲希尔X射线测厚仪FISCHER XDLM237信息

2026年10月11日 08:53:30      来源:笃挚仪器(上海)有限公司 >> 进入该公司展台      阅读量:2

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菲希尔 XDLM237 是一款专为微小结构、超薄镀层设计的全自动能量色散型 X 射线荧光(EDXRF)测厚仪。它的核心优势在于微聚焦光管配合全自动样品台,适合电子元器件、接插件、PCB 等大批量、高精度检测场景。

核心硬件与自动化

微聚焦 X 射线管:采用微聚焦钨靶光管(“M"即代表 Microfocus),最小测量光斑可达 0.05×0.05 mm,能精准定位接插件针尖等微小区域。

全自动样品台:区别于同系列的 231 型号,XDLM237 标配马达驱动可编程 X/Y/Z 轴。打开防护罩时,样品台会自动移出,方便快速装卸,特别适合批量自动化检测。

视觉与定位:配备高分辨率 CCD 摄像头(放大倍率 40x-160x),配合激光定位,能直观、精确地找到测量点。


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