FM-Nanoview6800AFM 产品介绍

我公司在标准型原子力显微镜FM-Nanoview6600AFM的基础上升级原子力显微镜FM-Nanoview 6800AFM，针对标记区域扫描提供准确的定位系统，增加磁力模块，扫描范围更广，定位更精确。

FM-Nanoview6800AFM 主要功能特点

硬件系统

○ 光机电一体化设计，外形结构简单；

○ 扫描探头和样品台集成一体，抗力强；

○ 精密激光检测及探针定位装置，光斑调节简单，操作方便；

○ 采用样品趋近探针方式，使针尖垂直于样品扫描；

○ 伺服马达手动或自动脉冲控制，驱动样品垂直接近探针，实现扫描区域精确定位；

○ 高精度大范围的样品移动装置，可自由移动感兴趣的样品扫描区域；

○ 高精度大范围的压电陶瓷扫描器，根据不同精度和扫描范围要求选择；

○ 带光学定位的CCD观测系统，实时观测与定位探针扫描样品区域；

○ 采用伺服马达控制CCD自动对焦功能；

○ 模块化的电子控制系统设计，便于电路的持续改进与维护；

○ 集成多种扫描工作模式控制电路，配合软件系统使用。

软件系统

○ 可观测样品扫描时的表面形貌像、振幅像和相位像；

○ 具备接触、轻敲、相位、摩擦力、磁力或静电力工作模式；

○ 可自由选择图像采样点为256×256或512×512；

○ 多通道图像同步采集显示，实时查看剖面图；

○ 多种曲线力-间距(F-Z)、频率-RMS（f-RMS）、RMS-间隙（RMS-Z）测量功能；

○ 可进行扫描区域偏移、剪切功能，任意选择感兴趣的样品区域；

○ 可任意选择样品起始扫描角度；

○ 激光光斑检测系统的实时调整功能；

○ 针尖共振峰自动和手动搜索功能；

○ 可任意定义扫描图像的色板功能；

○ 支持样品倾斜线平均、偏置实时校正功能；

○ 支持扫描器灵敏度校正和电子学控制器自动校正；

○ 支持样品图片离线分析与处理功能。

FM-Nanoview6800AFM 技术参数与规格