性能特点：
薄膜样品切片或树脂包埋样品均可；
切片样品适用于显微红外分析,
样品厚度：0-60um,
切片调节最小分度：1um,
标配含薄膜专用夹具.
显微红外光谱仪制样切片配套专用.
上海力晶科学仪器有限公司
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性能特点：
薄膜样品切片或树脂包埋样品均可；
切片样品适用于显微红外分析,
样品厚度：0-60um,
切片调节最小分度：1um,
标配含薄膜专用夹具.
显微红外光谱仪制样切片配套专用.
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