iSpec-XSR400系列微纳器件光谱响应度测试系统是一款专用于低维材料光电测试的系统。其功能全面，提供多种重要参数测试。系统集成高精度光谱扫描，光电流扫描以及光响应速率测试。40μm探测光斑，实现百微米级探测器的光谱响应度测量。超高稳定性光源支持长时间的连续测试，丰富的光源选择以及多层光学光路设计可扩展多路光源，例如超连续白光激光器，皮秒脉冲激光器，半导体激光器，卤素灯，氙灯等，满足不同探测器测试功能的要求。是微纳器件研究的优选。

 光源可选氙灯光源、超连续白光光源、连续激光器、皮秒脉冲激光器

 制冷样品台温度范围-196℃-600℃（-196摄氏度需要选择专用冷却系统）

 示波器采样率可达5GS/S，记录长度10M

 可以引入可调单色光源，进行全光谱范围的光谱响应度测试

紫外增强氙灯和EQ99光源的单色光能量曲线，使用40倍反射式物镜，300mm焦距光谱仪，光谱仪使用1200刻线300nm闪耀光栅，光斑直径大小80um。

光谱响应度

外量子效率

单色光/变功率IV

不同辐照度IT曲线（分辨率200ms）

不同偏压下的IT曲线

LBIC，Mapping

线性度测试

响应速率测试