老化的理论基础是电子产品的故障率曲线（简称浴盆曲线），如下图所示。老化试验箱是以剔除早期故障为目标，其理想的老化点为图中的D点，D点的选择主要靠经验数据。图中的A、B、C……表示老化程度的不同，A点表示老化不足，老化后仍有较大比率的缺陷流入市场，而E点则是过老化，这样增加了老化成本，缩短了产品使用寿命。

    老化是通过对电子产品施加加速环境应力，如温度应力、电应力、潮热应力、机械应力等，促使潜在缺陷加速暴露成故障，达到发现和剔除潜在缺陷的目的。老化不能损坏好的部分或引入新的缺陷，老化应力不能超出设计极限。

   老化的效果一般和施加的环境应力及老化时间有关系，常用的环境应力老化效果比较如下图所示，温度循环的老化。另外，在一定时间范围内，老化试验箱老化时间越长，老化效果越好。